ZW SERIJOS SUVIRINIMO DIODŲ APŽIŪRA IR PAKUOTĖ
Bandymo metodai ir tikrinimo taisyklės
1. Partijos tikrinimas (A grupės patikrinimas)
Kiekviena produktų partija turi būti patikrinta pagal 1 lentelę, o visi 1 lentelėje nurodyti elementai yra neardomi.
1 lentelė Partijos tikrinimas
| Grupė | InspekcijaPrekė | Patikrinimo metodas | Kriterijus | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Išvaizda | Vizuali apžiūra (įprastomis apšvietimo ir regėjimo sąlygomis) | Logotipas skaidrus, paviršiaus danga ir dengimas nenulupti ir nepažeisti. | 1.5 |
| A2a | Elektrinės charakteristikos | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) JB/T 7624-1994 | Apverstas poliškumas:VFM> 10 USD IRRM>100 USD | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1 (25 ℃) JB/T 7624-1994 | Skundas dėl reikalavimų | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) JB/T 7624-1994 | Skundas dėl reikalavimų | ||
| Pastaba: USL yra didžiausia ribinė vertė. | ||||
2. Periodinė patikra (B grupės ir C grupės patikra)
Pagal 2 lentelę, įprastoje gamyboje pagaminti galutiniai produktai turi būti kasmet tikrinami bent po vieną B ir C grupės partiją, o tikrinimo elementai, pažymėti (D), yra ardomieji bandymai.Jei pirminė patikra nekvalifikuota, papildomai paimti mėginiai gali būti pakartotinai tikrinami pagal priedo A.2 lentelę, bet tik vieną kartą.
2 lentelė Periodinė patikra (B grupė)
| Grupė | InspekcijaPrekė | Patikrinimo metodas | Kriterijus | Mėginių ėmimo planas | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Temperatūros ciklas (D), po kurio atliekamas sandarinimas |
| Matavimas po bandymo:VFM≤ 1,1 USD IRRM≤2USL ne nuotėkis | 6 | 1 |
| CRRL | Trumpai nurodykite atitinkamus kiekvienos grupės požymius, VFM ir ašRRMvertes prieš ir po testo bei testo išvadą. | ||||
3. Identifikavimo patikrinimas (D grupės patikrinimas)
Kai gaminys baigiamas gaminti ir pradedamas vertinti, be A, B, C grupių patikrinimų, D grupės bandymas taip pat turi būti atliktas pagal 3 lentelę, o tikrinimo punktai, pažymėti (D), yra ardomieji bandymai.Įprasta galutinių gaminių gamyba turi būti išbandyta bent viena D grupės partija kas trejus metus.
Jei pirminė patikra nepavyksta, papildomai paimti mėginiai gali būti pakartotinai tikrinami pagal priedo A.2 lentelę, bet tik vieną kartą
3 lentelė Identifikavimo testas
| No | Grupė | InspekcijaPrekė | Patikrinimo metodas | Kriterijus | Mėginių ėmimo planas | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Šiluminio ciklo apkrovos bandymas | Ciklo laikas: 5000 | Matavimas po bandymo:VFM≤ 1,1 USD IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Smūgis ar vibracija | 100 g: laikykite 6 ms, pusės sinuso bangos forma, dvi kryptys iš 3 viena kitai statmenų ašių, 3 kartus kiekviena kryptimi, iš viso 18 kartų.20g: 100 ~ 2000Hz, 2h kiekviena kryptimi, iš viso 6h. | Matavimas po bandymo: VFM≤ 1,1 USD IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Trumpai pateikite atitinkamus kiekvienos grupės atributų duomenis, VFM , IRRMir ašDRMvertes prieš ir po testo bei testo išvadą. | |||||
Ženklinimas ir pakavimas
1. Pažymėti
1.1 Ženklas ant gaminio apima
1.1.1 Produkto numeris
1.1.2 Terminalo identifikavimo ženklas
1.1.3 Įmonės pavadinimas arba prekės ženklas
1.1.4 Patikrinimo partijos identifikavimo kodas
1.2 Logotipas ant dėžutės arba pridedama instrukcija
1.2.1 Gaminio modelis ir standartinis numeris
1.2.2 Įmonės pavadinimas ir logotipas
1.2.3 Drėgmei ir lietui atsparūs ženklai
1.3 Pakuotė
Produkto pakuotės reikalavimai turi atitikti vidaus teisės aktus arba klientų reikalavimus
1.4 Gaminio dokumentas
Dokumente turi būti nurodytas gaminio modelis, įgyvendinimo standarto numeris, specialūs elektros charakteristikų reikalavimai, išvaizda ir kt.
Thesuvirinimo diodas„Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor“ gaminamas plačiai naudojamas atsparumo suvirintuvuose, vidutinio ir aukšto dažnio suvirinimo aparatuose iki 2000 Hz ar daugiau.Suvirinimo diodas iš Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor yra vienas patikimiausių Kinijos elektros prietaisų, turintis itin žemą pirminę didžiausią įtampą, itin mažą šiluminę varžą, naujausią gamybos technologiją, puikią pakeitimo galimybę ir stabilų veikimą visame pasaulyje. puslaidininkiniai gaminiai.